RF Testing Innovations Forum 2026 обсудит новые задачи RF-характеризации

RF Testing Innovations Forum 2026 обсудит новые задачи RF-характеризации

На виртуальном RF Testing Innovations Forum 2026 эксперты Rohde & Schwarz, Dassault Systèmes, FormFactor и Focus Microwaves обсудят актуальные проблемы RF-тестирования и характеризации устройств. В программе заявлены темы от residual measurements для active device characterization до валидации абсолютной фазы в широком диапазоне частот.

Фокус на компоненты для aerospace и defense

Открывать онлайн-форум будет доклад Маркуса Лёрнера, Market Segment Manager RF & Microwave Components в Rohde & Schwarz. Его keynote посвящен коммерциализации специализированных компонентов для aerospace и defense. В центре внимания будет рост спутниковой связи и оборонных приложений, который повышает спрос на новые RF-системы и, соответственно, на специализированные компоненты под жесткие требования таких проектов.

Лёрнер также собирается сравнить разные RF-подсистемы и вывести из этого конкретные требования к тестированию, чтобы упростить и ускорить вывод компонентов на рынок.

Почему важны фазовая калибровка и абсолютная фаза

Отдельная сессия будет посвящена абсолютным фазовым измерениям на широком диапазоне частот. Организаторы отмечают, что многие разработчики недооценивают эту часть измерений, хотя она важна для корректной валидации частотных преобразователей, time-domain transformations и ряда задач на VNA.

В докладе обещают обзор подходов к фазовой калибровке, подробный разбор comb generators и вопросов traceability, а также несколько case studies по практическому применению.

On-wafer измерения в D-диапазоне и шумовые параметры

Еще один блок программы касается sub-THz on-wafer измерений. По мере того как многогигабитные цифровые системы уходят на более высокие частоты, инженерам приходится расширять возможности S-параметрических измерений на пластине, чтобы точнее моделировать и характеризовать устройства. На живой демонстрации в лаборатории FormFactor в Дрездене покажут best practices для стабильных и повторяемых D-band on-wafer S-parameter measurements с использованием R&S ZNA и 170-ГГц frequency extenders.

Заключительная сессия форума будет посвящена валидации шумовых параметров в RF-цепях до 67 ГГц. Эта тема становится все важнее на фоне роста требований к low-noise amplifiers для LEO satellite communications, remote sensing и quantum computing. Организаторы напоминают, что LNA обычно стоит на первом каскаде приемника, поэтому именно его шумовые характеристики во многом определяют общий noise figure и чувствительность системы.

В презентации разберут базовые принципы шумовых измерений и извлечение noise parameters методом cold source. Практическая часть будет опираться на векторный анализатор цепей R&S ZNA с поддержкой noise-figure testing.

Участие в конференции бесплатное, но требует предварительной регистрации.

Добавить комментарий

Ваш адрес email не будет опубликован. Обязательные поля помечены *